關(guān)鍵字：3D全自動(dòng)超景深正置金相顯微鏡，金相顯微鏡，景深融合，超景深顯微鏡，全電動(dòng)XYZ工作臺(tái)，多分光比觀察頭，3D圖像拼接

全自動(dòng)工業(yè)顯微鏡，光學(xué)顯微鏡，全景拼接微分干涉，自動(dòng)照明、對(duì)焦，自動(dòng)轉(zhuǎn)塔，高速圖像拼接，高速相機(jī)，自動(dòng)照明，偏光觀測(cè)，電動(dòng)平臺(tái)

全新的 M10127系列研究級(jí)金相顯微鏡升級(jí)為全電動(dòng)XYZ工作臺(tái)機(jī)型，配合功能軟件，從外觀到性能都緊跟設(shè)計(jì)風(fēng)向, 致力于拓展工業(yè)領(lǐng)域全新格局。配合高質(zhì)量半復(fù)消Semi-APO光學(xué)系統(tǒng)，和透反射照明裝置，實(shí)現(xiàn)明場(chǎng)+暗場(chǎng)+偏光+DIC微分干涉相襯全功能觀察方式，XYZ電動(dòng)平臺(tái)和軟件提供全自動(dòng)軟件功能，融2D/3D高速成像，景深融合，自動(dòng)對(duì)焦等功能于一身，將是您工作中得力的助手！

XY電動(dòng)控制

通過軟件控制電動(dòng)平臺(tái)XY方向移動(dòng)，三種控制方式，既可以手動(dòng)直接拖動(dòng)窗口移動(dòng)平臺(tái)，也可以雙擊圖像，指哪去哪一鍵直達(dá)

多分光比觀察頭

偏光系統(tǒng)

偏光片和檢偏器有助于消除半導(dǎo)體和PCB檢測(cè)中的雜散光, 可獲得清晰細(xì)節(jié)的圖像。有固定分析儀和可旋轉(zhuǎn)分析儀可供選擇。可使用 360°可旋轉(zhuǎn)分析儀以不同的偏振角度觀察樣品。此外, 安裝新開發(fā)的 DIC 附件后,該偏振系統(tǒng)可以升級(jí)為 Nomarski 微分干涉對(duì)比系統(tǒng)。

Nomarski 微分干涉對(duì)比度 (DIC)

表面上無法在明場(chǎng)中發(fā)現(xiàn)的微細(xì)凹凸, 可以通過使用 U-DICR 附件來檢測(cè), 以創(chuàng)建高對(duì)比度背景。適用于LCD的導(dǎo)電粒子、精密磁盤的表面劃痕檢測(cè)